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NanoSystem NSM系列非接触式3D表面测量系统用于PCB基板表面形貌的测量。 基板上的Via Hole，Pad形状，pattern形貌和表面形貌等11个项目可以进行自动测量。 在高速测量下仍具有优秀的重复性和准确性，支持用户设定测量条件和测量数据自动保存及分析功能。

NanoSystem NVM-6000P非接触式3D表面测量系统用于PCB基板表面形貌的测量。 基板上的Via Hole，Pad形状，pattern形貌和表面形貌等11个项目可以进行自动测量。 在高速测量下仍具有优秀的重复性和准确性，支持用户设定测量条件和测量数据自动保存及分析功能。

Nanosystem NVF-2700 非接触式3D轮廓仪，通过非接触式的方法对0.1nm-270nm的3维表面形貌进行高进度和高速测量。利用物镜转台可方便的进行放大倍数的转换。使用拼接功能可分析宽广的表面。

NanoSystem NV-3200非接触式3D光学轮廓仪为LCD、IC Package、Substrate、Build-up PCB、MEMS，Engineering Surfaces等领域提供纳米级别精度的测量.

Nanosystem NV-2700 非接触式3D轮廓仪，通过非接触式的方法对0.1nm-270nm的3维表面形貌进行高进度和高速测量。利用物镜转台可方便的进行放大倍数的转换。使用拼接功能可分析宽广的表面。

Nanosystem NV-2400非接触式3D轮廓仪通过非接触式的方法对0.1nm-270nm的3维表面形貌进行高进度和高速测量。利用物镜转台可方便的进行放大倍数的转换。使用拼接功能可分析宽广的表面。